¿Qué es un cristal uniaxial?
En un cristal uniaxial, existe una dirección tal que cualquier luz en esa dirección en el cristal tiene la misma velocidad, independientemente de su estado de polarización. Esta dirección se llama eje óptico.
¿Qué es un material uniaxial?
Si el material tiene un solo eje de anisotropía, (es decir es uniaxial), la birrefringencia puede describirse asignando dos índices de refracción diferentes al material para las distintas polarizaciones. El papel de celofán es un material birrefringente común.
¿Cómo se distingue una sección Isótropa de un cristal Uniáxico de otra de un cristal Biáxico?
En las indicatrices uniáxicas existe una única sección circular y por lo tanto solo tendremos un eje óptico (que coincide con eje c del cristal). En las indicatrices biáxicas, existen dos secciones circulares y por lo tanto dos ejes ópticos, que forman entre si un ángulo denominado ángulo 2V.
¿Qué es un material refringente?
Adjetivo. La definición de refringente (en física) aludido a cualquier fenómeno de tipo físico que origina, produce y ocurre el procedimiento o proceso de la refracción, es decir el cambio o alteración de la dirección o trayecto de la luz o cualquier radiación hacia un punto fijo.
¿Qué es la cristalografía de rayos?
La cristalografía de rayos X es una técnica consistente en hacer pasar un haz de rayos X a través de un cristal de la sustancia sujeta a estudio.
¿Dónde se producen los rayosx?
Estos rayos X se producen en los laboratorios de Cristalografía o en las llamadas grandes instalaciones de sincrotrón (como el ESRF: European Synchrotron Radiation Facility). Los equipos que se utilizan en los laboratorios de Cristalografía para producir estos rayos X son relativamente sencillos.
¿Cuáles son los diferentes métodos de difracción de rayos?
MÉTODOS DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X Existen tres métodos para producir difracción de rayos X. Método de Laue, Método de rotación de cristal y método Powder.
¿Cómo distinguir la carga electrónica de la difracción de rayos?
•Pues podemos distinguirlas usando únicamente el experimento de difracción de Rayos X, siempre y cuando se cuente con datos que incluyan hasta un radio recíproco (d*) mayor a 2 Å-1 y además el programa de refinación permita explícitamente la deformación de la carga electrónica. Introducción
